日立熱場發(fā)射掃描電鏡SU7000：此次推出的SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據獲得的信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱WD），以設置最 佳的觀察與分析條件，而SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。而且，SU700
日立熱場發(fā)射掃描電鏡SU7000：
此次推出的SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據獲得的信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱WD），以設置最 佳的觀察與分析條件，而SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。而且，SU7000還配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級SEM控制系統，大幅提高了信號獲取速度，由此實現了樣品的高通量觀察。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
日立熱場發(fā)射掃描電鏡SU7000創(chuàng)新點：
SU7000配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級SEM控制系統，大幅提高了信號獲取速度，由此實現了樣品的高通量觀察。
標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析；
SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變工作距離的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。
主要特點：
1．在相同WD的條件下，可同時實現二次電子、背散射電子觀察與X射線熒光分析
2．可同時實現6通道檢測與顯示
3．在最 大像素10240 x 7680時，也可獲得圖像數據
4．同級別*設備中最 多的可配置18個附件接口5．支持低至300Pa的低真空模式（選配）；*空間分辨率在1 nm/1 kV以下
